Технология контроля микрообработки на станках с ЧПУ

 Технология контроля микрообработки на станках с ЧПУ 

2026-01-29

В области высокоточной микрообработки на станках с ЧПУ контроль микроструктур в режиме реального времени (например, микроканавок и прецизионных микроотверстий) имеет решающее значение для обеспечения качества продукции. Поскольку традиционные контактные зонды подвержены риску деформации под воздействием силы и затрудняют доступ к мельчайшим деталям, бесконтактные технологии, такие как электронные увеличители и лазерный контроль, стали основными решениями.

 

Системы электронных увеличителей, использующие комбинацию цифровой камеры высокого разрешения и прецизионной оптической линзы, увеличивают изображения микрообработанных деталей в сотни раз в режиме реального времени и передают их на монитор. Операторы или программное обеспечение для обработки изображений могут четко наблюдать текстуру поверхности, заусенцы и целостность контура, что позволяет быстро проводить качественную оценку и двухмерное измерение некоторых параметров. Преимуществами являются интуитивность и эффективность, что делает их особенно подходящими для мониторинга состояния обработки в режиме реального времени и предварительной диагностики дефектов.

Технология лазерного контроля, благодаря своей высокой чувствительности, позволяет проводить более точные количественные измерения. Лазерные датчики перемещения, использующие триангуляцию, быстро и бесконтактно получают трехмерные координаты измеряемой точки, обеспечивая точность на уровне микронов или даже субмикронов при определении таких параметров, как глубина микроотверстия и высота микроступеней. Лазерная конфокальная микроскопия, дополнительно объединенная с принципом спектральной конфокальной микроскопии, позволяет получать трехмерную морфологическую реконструкцию с более высоким продольным разрешением, подходящую для точного анализа сложных микроскопических геометрических особенностей.

129.1 (3)

В практических приложениях эти две технологии часто дополняют друг друга: электронное увеличение используется для быстрого позиционирования и макроскопического наблюдения, а лазерное обнаружение — для точного количественного анализа критических размеров. Благодаря развитию технологической интеграции, объединение визуального управления электронным увеличением с точными измерительными возможностями лазерного обнаружения в единую систему контроля и ее интеграция в станки с ЧПУ позволяют достичь автоматизированного, высокоточного, замкнутого цикла контроля микрообработанных деталей, значительно повышая уровень контроля процесса и процент качества продукции в высокоточном производстве.

129.1 (4)
Главная
Продукция
О Hас
Контакты

Пожалуйста, оставьте нам сообщение